Fluorescenza a raggi X Spettrometro (XRF)

Lo spettrometro a fluorescenza a raggi X (XRF) è un metodo veloce e non distruttivo di misurazione del materiale, ampiamente utilizzato nelle analisi elementari e nelle analisi chimiche, specialmente nelle indagini e nella ricerca di metallo e vetro.

Un tipico XRF è composto da un tubo A raggi X e un sistema di rilevamento. Il tubo a raggi X produce una singola radiografia che stimola il campione sotto il test. Ogni elemento in un campione eccitato emette raggi X secondari e i raggi X secondari rilasciati da diversi elementi hanno proprietà energetiche specifiche o proprietà di lunghezza d'onda. Utilizzando il principio della fluorescenza a raggi X, è possibile misurare ogni elemento nella tavola periodica degli elementi.